尼康推出Limited Angle CT技术，大幅提高工业X射线检测效率与精度，适用于大型复杂部件检测。

　　近日，尼康（Nikon）宣布，为其VOXLS和XT H 225系列工业X射线检测系统推出了Limited Angle CT——这是一项创新型计算机断层扫描(CT)技术，在无需对样品进行360度完整旋转的情况下，实现高分辨率成像，为工业检测领域带来重大变革。

　　传统CT扫描需要对样品进行全方位旋转，而Limited Angle CT通过优化扫描路径和重建算法，仅需部分旋转即可获取高精度三维数据。这一设计不仅提升了扫描效率，还允许将样品更靠近X射线源，从而显著提高放大倍率，使大型复杂部件（例如印刷电路板、软包及方壳电动汽车电池，以及碳纤维部件）的局部细节检测成为可能。尼康X射线产品经理Ben Morgan表示：“Limited Angle CT拓展了我们X射线CT系统的检测能力。它是Nikon CT工具包中的多种先进成像技术之一。Limited Angle CT与 X.Tend Helical CT、平板移动CT、倾斜CT和Scatter Correction CT等其他方法相辅相成。在系统中具有优秀的多功能性，使操作员能够为每项特定检测任务选择最合适的技术。如今，借助Limited Angle CT，可以对较大样品中的特定区域进行高放大倍率检测。”

　　超高分辨率成像：针对高纵横比或复杂几何形状的样品，Limited Angle CT能够实现更小的体素分辨率，克服传统几何放大技术的局限性。智能重建算法：尼康专有的重建算法确保在傲世皇朝平台登录地址旋转角度减小的情况下，仍能生成与传统CT相媲美的数据质量，避免信息损失。

　　全自动化操作：系统内置旋转中心计算功能，支持无人干预的自动化扫描流程，无需依赖定位辅助工具。

　　快速检测效率：相比传统X射线显微镜，Limited Angle CT可在几分钟内完成高精度扫描，大幅提升检测效率。

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